MMC2114 MOTOROLA [Motorola, Inc], MMC2114 Datasheet - Page 559

• Manufacturer Part Number: MMC2114
• Description: M CORE Microcontrollers
• Manufacturer: MOTOROLA [Motorola, Inc]

22.1 Contents
MMC2114 • MMC2113 • MMC2112 — Rev. 1.0
MOTOROLA
Advance Information — MMC2114, MMC2113, and MMC2112
Section 22. JTAG Test Access Port and OnCE
22.2
22.3
22.3.1
22.3.2
22.3.3
22.3.4
22.3.5
22.3.6
22.4
22.5
22.5.1
22.5.2
22.5.3
22.5.4
22.5.5
22.5.6
22.5.7
22.6
22.7
22.8
22.9
22.10 Non-Scan Chain Operation. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 573
22.11 Boundary Scan . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 573
22.12 Low-Level TAP (OnCE) Module . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .579
22.13 Signal Descriptions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .581
22.13.1 Debug Serial Input (TDI) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 581
22.13.2 Debug Serial Clock (TCLK) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 581
22.13.3 Debug Serial Output (TDO) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 581
Freescale Semiconductor, Inc.
For More Information On This Product,
Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 561
Top-Level Test Access Port (TAP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 563
Top-Level TAP Controller . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .566
Instruction Shift Register. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 567
IDCODE Register . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 571
Bypass Register . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 572
Boundary Scan Register. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 572
Restrictions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 572
JTAG Test Access Port and OnCE
Test Clock (TCLK) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 564
Test Mode Select (TMS) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 564
Test Data Input (TDI) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 564
Test Data Output (TDO) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 564
Test Reset (TRST) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 564
Debug Event (DE) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 564
EXTEST Instruction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 567
IDCODE Instruction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 568
SAMPLE/PRELOAD Instruction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 569
ENABLE_MCU_ONCE Instruction . . . . . . . . . . . . . . . . . . .569
HIGHZ Instruction. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 570
CLAMP Instruction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 570
BYPASS Instruction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 570
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