NBXMBA024LN1TAG ON Semiconductor, NBXMBA024LN1TAG Datasheet - Page 4

• Manufacturer Part Number: NBXMBA024LN1TAG
• Description: IC CRYSTAL OSC SGL FREQ 6CLCC
• Manufacturer: ON Semiconductor

Specifications of NBXMBA024LN1TAG

• Frequency: *
• Voltage - Supply: *
• Current - Supply: 95mA
• Operating Temperature: *
• Package / Case: 6-CLCC
• Count: *
• Product: XO
• Frequency Stability: +/- 50 PPM
• Supply Voltage: 4.6 Volts
• Termination Style: SMD/SMT
• Minimum Operating Temperature: - 40 C
• Maximum Operating Temperature: + 85 C
• Output Format: LVPECL
• Dimensions: 5 mm W x 7 mm L
• Height: 1.8 mm
• Duty Cycle (max): 50 %
• Mounting Style: SMD/SMT
• Supply Voltage (max): 4.6 Volts
• Lead Free Status / RoHS Status: Lead free / RoHS Compliant

Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Table 7. RELIABILITY COMPLIANCE
Shock
Solderability
Vibration
Solvent Resistance
Thermal Shock
Moisture Level Sensitivity
Parameter
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Mechanical
Mechanical
Mechanical
Mechanical
Environment
Environment
Figure 3. Typical Phase Noise Plot
Standard
http://onsemi.com
4
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á Á
MIL−STD−833, Method 2002, Condition B
MIL−STD−833, Method 2003
MIL−STD−833, Method 2007, Condition A
MIL−STD−202, Method 215
MIL−STD−833, Method 1011, Condition A
MSL1 260°C per IPC/JEDEC J−STD−020D
Method